半导体电性能测试应用的专业领域十分广泛，分别有：微电子、集成电路、物理与电子工程、航空航天、材料科学与工程、材料与能源、电子科学与工程、光电信息与能源工程等等等...

　　数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到，源表集多表合一、配上专业软件就可以实现各种定制测量，使用十分普遍。 S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能，这些测试功能，令S型触摸屏数字源表具有I-V特性检测系统、曲线追踪仪与半导体分析仪的各种测试能力，而成本更低廉。

　　在实际应用中，不同专业领域所进行的电性能测试实验是不同的，下面就来展示一些典型的实验现象。

　　讲到这里，小编还是要说一句，半导体电性能测试实验远远不止这些，在各种实验项目中,多功能数字源表不可缺。

　　普赛斯仪表专注于半导体电性能测试领域，基于高精度数字源表综合实验平台，可提供多种实验测量环境，搭配丰富的测试夹具及实验器材，满足半导体电性能测试需求，提高测试效率。

　　半导体电性能IV+CV测试仪认准生产厂商武汉普赛斯!普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供较为可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。如果您对普赛斯功率半导体器件静态参数测试方案和国产化高精度源表感兴趣，欢迎随时保持联系我们！

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